​AOI光学检测之反应论模型

AOI光学检测之反应论模型

应力一强度模型主要用来模拟机械设备的损坏，而反应论模型则用来模拟化学发应等导致的失效。它是指电子元器件的劣化和损坏等失效，是在原子、分子这样级别上随时间发生的变化引起的。例如，由于电气、机械、热和化学等多方面的应力所引起物质内部各种变化，如平衡状态的变化、材料组分的变化、晶体结构的变化、结合力的变化、裂纹的发展等，都是造成元器件失效的原因。而支配这些失效进程的，乃是氧化、析出、电解、扩散、蒸发、磨损和疲劳等失效机理。这些变化或反应的速度决定于应力的种类和大小。元件或材料的寿命决定于这样的反应结果，即反应产生的有害物质(如氧化物、腐蚀析出物等)的积累或裂纹的扩展达到或超过界限值，失效即随之发生，也就是说，失效寿命是随反应速度加快而缩短，它与反应速度成友比。把这样的失效物理模型称为反应论模型。它也是属于耐久模型范畴的理想化模型。这里所指的反应不仅指狭义的化学反应，而且包括蒸发、凝聚、形变、裂纹传播等具有一定速度的物理变化，都可属于反应论模型。

在从正常状态进入退化状态的过程中，存在着能量势垒，而跨越这种势垒所必需的能最是由环境应力提供的 (如图5-2所示)。并且，越过此能叠势垒(称为激活能E)进行反应的频数是按一定概率发生的，即服从玻尔兹曼分布，此反应速度与温度的关系，就是阿列里乌斯(Arrhenius)模型和艾林(Eyring)模型。