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AOI检测技术向实现产线“零缺陷”的方向发展

作者:admin 浏览量:113 来源:本站 时间:2023-08-21 11:54:34

信息摘要:

AOI检测技术向实现产线“零缺陷”的方向发展

众所周知,随着电子信息行业不断发展,PCB贴装产品也向超薄性、小元件、高密度、细间距方向快速发展;单位PCB上元器件组装密度越来越高,线宽、间距、焊盘越来越细小、已到微米级,复合层数越来越多,客户端的品质要求也在不断的提高;chip类元件已经达到03015的大小,对检测的精度要求越来越高。智能电子智造时代的来临,众多电子EMS制造厂商都朝着如何提升更高品质,实现产线“零缺陷”的方向发展。



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