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​ AOI一键程序编写技术分享阻容元件的主要失效模式和失效机理

作者:admin 浏览量:94 来源:本站 时间:2024-01-10 16:50:20

信息摘要:

阻容元件的主要失效模式和失效机理电子元器件种类繁多,失效分析方法各异。失效分析时,需根据电子元器件的失效现场数据和电测结果确定失效模式,估计可能的失效机理,选择适当的失效分析方法,对可能失效机理进行验证。1、电阻器 电阻器是应用最广泛的元件。按材料和用途,电阻器可以分为:合金型、薄膜型和合成型。

 阻容元件的主要失效模式和失效机理


电子元器件种类繁多,失效分析方法各异。失效分析时,需根据电子元器件的失效现场数据和电测结果确定失效模式,估计可能的失效机理,选择适当的失效分析方法,对可能失效机理进行验证。1、电阻器 电阻器是应用最广泛的元件。按材料和用途,电阻器可以分为:合金型、薄膜型和合成型。电阻器主要的失效模式为:开路、参数超差、引线断裂和短路。开路的主要失效机理是:电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。参数超差的主要失效机理是:引线帽与电阻体接触不良,电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。引线断裂的主要失效机理是:引线帽与电阻体焊接工艺缺陷、焊点污染、引线机械应力损伤。



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